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| 微小位移的全息计量法 | |
| 引用本文： | 辛健,蒋然.微小位移的全息计量法[J].辽宁省交通高等专科学校学报,2001,3(2):7-9,51. |
| 作者姓名： | 辛健 蒋然 |
| 摘 要： | 二次曝光法即在同一底片上对被测弹性物体受力前后两次曝光，全息底片将物体受力前后形变的信息全部记录下来，底片经冲洗在原参考光照下再现时，因特体形变前后两个物光波相位有差异，形成干涉条纹图，利用这些条纹可计算被测物体各点的位移和形变。 |
| 关 键 词： | 全息图 二次曝光法 光程差 条纹 微小位移 激光检测 无损检测 |
The Hologram Measuring Method of minimovenent |
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