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| 基于主元分析的电磁继电器贮存失效机理研究 | |
| 作者单位： | 江苏科技大学 电子信息学院,镇江212100 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金;国家自然科学基金;国防基础科研项目;江苏省研究生科研与实践创新计划项目 |
| 摘 要： | 通常加速退化数据分析中退化失效只考虑或者假设一种或两种退化数据建模,而实际上很多情况下会存在多个退化敏感参数.且参数退化存在随机性,因此每两个敏感参数之间并不是简单的相关或者独立.为了更加智能准确地处理继电器加速贮存实验数据,为继电器贮存失效机理分析以及寿命预测提供依据,对电磁继电器进行加速贮存实验,在考虑多退化敏感参数及各参数相关性的条件下,研究了有贮存可靠性要求的继电器产品的性能退化理论和机理,提出了基于主成分分析的多参数退化数据分析方法.主元分析结果表明,原始数据的第一主元就能综合原始数据的绝大部分信息,可用第一主元代替原始数据,使后续分析更加准确. |
| 关 键 词： | 电磁继电器 多退化参数 相关性 主成分分析 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |