| 改进的CK度量套件 |
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| 引用本文： | 李晓航,胡晓鹏. 改进的CK度量套件[J]. 西南交通大学学报, 2008, 43(1): 35-39 |
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| 作者姓名： | 李晓航 胡晓鹏 |
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| 作者单位： | 西南交通大学信息科学与技术学院,四川,成都,610031 |
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| 摘 要： | 为弥补CK套件中每类加权方法数量、继承树深度和方法内聚缺乏度等度量指标的缺陷,提出了如下改进的度量指标：每类加权方法参数复杂性（WMACC）、每类加权方法属性复杂性（WACC）、相对继承树深度（RDIT）、方法内聚性（CM）和封装率（ER）.用Java的Util包中的类作为测试数据比较了ICK度量套件和CK套件,结果表明,WMACC和CM更准确地反映了方法的复杂性和内聚性,RDIT更适合于纯面向对象系统的环境.WACC和ER提供了对属性复杂性和封装性的度量.
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| 关 键 词： | 软件度量 CK套件 软件工程 每类加权方法数量 继承树深度 方法内聚性缺乏度 |
| 文章编号： | 0258-2724(2008)01-0035-05 |
| 修稿时间： | 2006-11-20 |
Improvement on CK Metrics Suite for Object-Oriented Software |
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| LI Xiaohang,HU Xiaopeng. Improvement on CK Metrics Suite for Object-Oriented Software[J]. Journal of Southwest Jiaotong University, 2008, 43(1): 35-39 |
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| Authors: | LI Xiaohang HU Xiaopeng |
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