光敏元件线性度的偏振法测定

提出了一种利用光的偏振现象对半导体光敏元件进行线性度测定的方法。该方法利用起偏器和检偏器之间的夹角与输出光强之间严格的对应关系，无须光强计和精密光路，具有操作简单、附加误差小的优点。并以3种常见的光敏元件为例，给出了光路结构、测量电路并列表给出了测量数据及其处理结果。