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电磁继电器作为一种高可靠、长寿命产品,在长期贮存过程中经常会遇到零失效的情况.文中采用Bayes方法结合性能退化数据来解决电磁继电器无失效数据的可靠性评估问题,利用K-S检验法得到电磁继电器的贮存寿命模型服从威布尔分布,通过Bootstrap抽样和MCMC方法分别对先验分布和后验分布进行求解.结果表明,Bootstrap抽样确定未知参数的先验分布相比于传统方法更精确,MCMC方法则解决了后验分布求解复杂的问题,并通过实例验证了Bayes方法在零失效情况下进行可靠性评估的可行性. 相似文献
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