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一种CMOS异或门的版图优化设计方法
引用本文:刘春娟,吴蓉.一种CMOS异或门的版图优化设计方法[J].兰州铁道学院学报,2008,27(1):107-109.
作者姓名:刘春娟  吴蓉
作者单位:兰州交通大学电子与信息工程学院,甘肃兰州730070
摘    要:通过对异或门的各种特性进行较完整的分析研究,从CMOS异或门电路级、晶体管级以及版图级的逐级设计,提出了一种异或门的版图优化设计方法.并且使用IC设计工具-Tanner Pro对异或门电路和版图进行了仿真和与优化.通过仿真试验,验证了所设计的CMOS 0.65 μm N阱工艺参数的版图在结构上得到了简化,平均延迟传递时间为tavd=0.67 ns,性能上获得了改善.

关 键 词:异或门  版图设计
文章编号:1001-4373(2008)01-0107-03
修稿时间:2007年10月12

An Optimized Design Method of CMOS XOR Gate Layout
LIU Chun-juan,WU Rong.An Optimized Design Method of CMOS XOR Gate Layout[J].Journal of Lanzhou Railway University,2008,27(1):107-109.
Authors:LIU Chun-juan  WU Rong
Abstract:
Keywords:CMOS  Tanner
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