过阻尼振动与临界阻尼振动的一种判别方法

通过计算过阻尼振动和临界阻尼振动曲线所包围的面积，找到一种判别过阻尼振动与临界阻尼振动的简单方法。     

过阻尼振动与临界阻尼振动的一种判别方法

通过计算过阻尼振动和临界阻尼振动曲线所包围的面积,找到一种判别过阻尼振动与临界阻尼振动的简单方法.     

Si基扩镓溅射Ga2O3反应自组装GaN薄膜

采用射频磁控溅射工艺在预沉积和预沉积后再分布的扩镓Si基上溅射Ga2O3薄膜氮化反应组装GaN薄膜。用红外透射谱（mR）、X射线衍射（XRD）、扫描电镜（SEM）、选区电子衍射（SAED）和荧光光谱（PL）对样品进行组成、结构、形貌和发光特性的分析。测试结果表明：采用此方法得到六方纤锌矿结构的GaN薄膜。同时显示预沉积的扩镓硅基较预沉积后再分布的扩镓硅基更适合GaN薄膜的生长。